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AOI微观瑕疵检测设备：产品概要微观瑕疵检测系统 ——取代显微镜人工目检
微观瑕疵检测系统配置了高清高速显微成像系统，具备多组光源，适应多种产品外观缺陷检测； 使用了动态聚焦与飞拍技术，能以极高速度进行采样与分析，从而实现对大多数半导体、电子制造、精密制造产品的外观瑕疵检测； 结合深度学习的检测算法，能适应各种复杂缺陷检测； 配合后台的数据统计系统，能对检测产品的不良信息进行存档和统计分析，为制程优化提供依据； 本设备占用空间小，可直接摆放到桌面上，极为节省空间，提高洁净车间的利用率。 提高效率、节省人工、品质追溯、降低成本 提高效率 ：检测效率为显微镜目检的5-50倍 节省人工 ：每套系统可节省5-10名质检员 品质追溯 ：存档不良图，为品质追溯、改善工艺提供保障 降低成本 ：产能饱和，1年左右收回投资
应用案例：
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